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SEMI OpenIR  > 中国科学院半导体研究所(2009年前)  > 会议论文

题名: Solid-state qubit measurement with single electron transistors
作者: Jiao, HJ;  Li, F;  Wang, SK;  Li, XQ
出版日期: 2008
会议日期: JUN 23-27, 2008
摘要: In this paper we consider the continuous weak measurement of a solid-state qubit by single electron transistors (SET). For single-dot SET, we find that in nonlinear response regime the signal-to-noise ratio can violate the universal upper bound imposed quantum mechanically on any linear response detectors. We understand the violation by means of the cross-correlation of the detector currents. For double-dot SET, we discuss its robustness against wider range of temperatures, quantum efficiency, and the relevant open issues unresolved.
会议名称: 2nd International Workshop on Solid-State Quantum Computing/Mini-School on Quantum Information Science
会议文集: SOLID-STATE QUANTUM COMPUTING
专题: 中国科学院半导体研究所(2009年前)_会议论文

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推荐引用方式:
Jiao, HJ;Li, F;Wang, SK;Li, XQ.Solid-state qubit measurement with single electron transistors .见:AMER INST PHYSICS .SOLID-STATE QUANTUM COMPUTING,2 HUNTINGTON QUADRANGLE, STE 1NO1, MELVILLE, NY 11747-4501 USA ,2008,PROCEEDINGS,1074,: 86-91
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