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SEMI OpenIR  > 中国科学院半导体研究所(2009年前)  > 会议论文

题名: Characterization of high-speed optoelectronics devices based optical and electrical spectra analyses - art. no. 68380Q
作者: Wen, JM;  Zhu, NH;  Zhang, T
出版日期: 2008
会议日期: NOV 12-15, 2007
摘要: In this paper, we presents the characterization technique of high-speed optoelectronics devices based electrical and optical spectra, which is as important access to the devices performance as the prevalent vector network analyzer (VNA) sweeping method. The measurement of additional modulation of laser and frequency response of photodetector from electrical spectra, and the estimation of the modulation indexes and the chirp parameters of directly modulated lasers based on optical spectra analysis, are given as examples.
会议名称: 2nd Conference on Optoelectronic Devices and Integration
KOS主题词: frequency response
会议文集: OPTOELECTRONIC DEVICES AND INTEGRATION II
专题: 中国科学院半导体研究所(2009年前)_会议论文

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Wen, JM ; Zhu, NH ; Zhang, T .Characterization of high-speed optoelectronics devices based optical and electrical spectra analyses - art. no. 68380Q .见:SPIE-INT SOC OPTICAL ENGINEERING .OPTOELECTRONIC DEVICES AND INTEGRATION II,1000 20TH ST, PO BOX 10, BELLINGHAM, WA 98227-0010 USA ,2008,6838: Q8380-Q8380
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