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SEMI OpenIR  > 中国科学院半导体研究所(2009年前)  > 专著

题名: 光电子器件微波封装和测试
作者: 祝宁华
出版日期: 2007
摘要: 本书总结了作者多年来的工作经验和近期研究成果,系统地介绍了高速光电子器件测试和微波封装设计方面的实用技术,先进性、学术性和实用性兼备。全书共十一章,内容包括半导体激光器、光调制器和光探测器三种典型高速光电子器件的微波封装设计,网络分析仪扫频测试法、小信号功率测试法、光外差技术等小信号频率响应特性测试方法及测试系统校准方法,数字和模拟通信光电子器件大信号频率响应特性测试方法,光电子器件本征响应特性分析和应用,光谱与频谱分析技术的总结。
专题: 中国科学院半导体研究所(2009年前)_专著

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祝宁华.光电子器件微波封装和测试.北京:科学出版社.2007
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