发光二极管响应特性的测试系统及方法
牛立涛; 关敏; 楚新波; 李弋洋; 曾一平
专利权人中国科学院半导体所
公开日期2016-08-30
授权国家中国
专利类型发明
学科领域半导体材料
申请日期2014-09-02
申请号CN201410443019.3
文献类型专利
条目标识符http://ir.semi.ac.cn/handle/172111/27315
专题中科院半导体材料科学重点实验室
推荐引用方式
GB/T 7714
牛立涛,关敏,楚新波,等. 发光二极管响应特性的测试系统及方法.
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