SEMI OpenIR  > 高速电路与神经网络实验室
一种基于近红外提高鉴别结果的定性分析方法
张丽萍; 李卫军; 董肖莉; 覃鸿
专利权人中国科学院半导体所
公开日期2016-08-30
授权国家中国
专利类型发明
学科领域人工智能
申请日期2014-10-30
申请号CN201410599230.4
文献类型专利
条目标识符http://ir.semi.ac.cn/handle/172111/27240
专题高速电路与神经网络实验室
推荐引用方式
GB/T 7714
张丽萍,李卫军,董肖莉,等. 一种基于近红外提高鉴别结果的定性分析方法.
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