光子上转换器频率响应的测试装置和测试方法
楚新波; 关敏; 牛立涛; 李戈洋; 曾一平
专利权人中国科学院半导体研究所
公开日期2014-09-03
授权国家中国
专利类型发明
学科领域半导体材料
申请日期2013-05-13
申请号CN201410200421.9
文献类型专利
条目标识符http://ir.semi.ac.cn/handle/172111/25925
专题中科院半导体材料科学重点实验室
推荐引用方式
GB/T 7714
楚新波,关敏,牛立涛,等. 光子上转换器频率响应的测试装置和测试方法.
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