光子上转换器频率响应的测试装置和测试方法 | |
楚新波; 关敏; 牛立涛; 李戈洋; 曾一平 | |
Rights Holder | 中国科学院半导体研究所 |
Date Available | 2014-09-03 |
Country | 中国 |
Subtype | 发明 |
Subject Area | 半导体材料 |
Application Date | 2013-05-13 |
Application Number | CN201410200421.9 |
Document Type | 专利 |
Identifier | http://ir.semi.ac.cn/handle/172111/25925 |
Collection | 中科院半导体材料科学重点实验室 |
Recommended Citation GB/T 7714 | 楚新波,关敏,牛立涛,等. 光子上转换器频率响应的测试装置和测试方法. |
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光子上转换器频率响应的测试装置和测试方法(583KB) | 限制开放 | License | Application Full Text |
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