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用于微机电系统器件的圆片级三维封装方法; 用于微机电系统器件的圆片级三维封装方法
郑海洋; 杨晋玲; 杨富华
专利权人中国科学院半导体研究所
公开日期2012-09-07 ; 2012-02-29 ; 2012-09-07
授权国家中国
专利类型发明
摘要 本发明公开了一种用于微机电系统器件的圆片级三维封装方法,该方法包括:制作盖片;以及将制作的盖片与器件芯片进行圆片级键合。本发明提出利用电磁力将微纳尺度的金属线导入微孔中来实现高质量可靠的三维电学连接,损耗低,寄生效应小;采用局域加热技术只对键合区域进行加热,不仅能实现高键合强度和高气密性,而且保证器件区在整个键合过程中处于较低温度,器件性能不受键合温度影响。圆片级封装保证了封装的低成本。这一方法为MEMS器件,特别是射频MEMS器件,提供了高质量的低成本三维封装方法。
部门归属半导体集成技术工程研究中心
申请日期2011-11-04
专利号CN102363520A
语种中文
专利状态公开
申请号 CN201110346268.7
文献类型专利
条目标识符http://ir.semi.ac.cn/handle/172111/23344
专题半导体集成技术工程研究中心
推荐引用方式
GB/T 7714
郑海洋,杨晋玲,杨富华. 用于微机电系统器件的圆片级三维封装方法, 用于微机电系统器件的圆片级三维封装方法. CN102363520A.
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用于微机电系统器件的圆片级三维封装方法.(582KB) 限制开放使用许可请求全文
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