SEMI OpenIR  > 半导体超晶格国家重点实验室
测量电子自旋相关输运的变温显微测量系统; 测量电子自旋相关输运的变温显微测量系统
李韫慧; 章昊; 肖文波; 吴昊; 谭平恒
Rights Holder中国科学院半导体研究所
Date Available2012-08-29 ; 2011-11-23 ; 2012-08-29
Country中国
Subtype发明
Abstract 一种测量电子自旋相关输运的变温显微测量系统,包括:一HeNe激光器;一格兰泰勒棱镜将HeNe激光器出射的激光变成线偏振光;一光弹调制器;一显微物镜用于将入射激光聚焦在样品台面上;一变温液氮杜瓦样品座包括一温度控制仪,一紫铜冷指,待测量样品固定在紫铜冷指顶端;一数字电压电流源表其控制端通过GPIB线与一计算机连接;一取样电阻用于将待测量样品的交流电压信号提取出来;一锁相放大器其控制端通过GPIB线与一计算机连接;一半反半透镜组位于主光路上;一白光光源用以观察待测量样品台面上的位置;一摄像机和显示器用来显示输出待测量样品台面成像以及激光光斑位置;一钕铁硼环形永磁体同轴套在变温液氮杜瓦样品座的紫铜冷指外部。
metadata_83半导体超晶格国家重点实验室
Application Date2011-06-14
Patent NumberCN102253323A
Language中文
Status公开
Application Number CN201110159296.8
Document Type专利
Identifierhttp://ir.semi.ac.cn/handle/172111/23325
Collection半导体超晶格国家重点实验室
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GB/T 7714
李韫慧,章昊,肖文波,等. 测量电子自旋相关输运的变温显微测量系统, 测量电子自旋相关输运的变温显微测量系统. CN102253323A.
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