SEMI OpenIR  > 半导体超晶格国家重点实验室
测量电子自旋相关输运的变温显微测量系统; 测量电子自旋相关输运的变温显微测量系统
李韫慧; 章昊; 肖文波; 吴昊; 谭平恒
专利权人中国科学院半导体研究所
公开日期2012-08-29 ; 2011-11-23 ; 2012-08-29
授权国家中国
专利类型发明
摘要 一种测量电子自旋相关输运的变温显微测量系统,包括:一HeNe激光器;一格兰泰勒棱镜将HeNe激光器出射的激光变成线偏振光;一光弹调制器;一显微物镜用于将入射激光聚焦在样品台面上;一变温液氮杜瓦样品座包括一温度控制仪,一紫铜冷指,待测量样品固定在紫铜冷指顶端;一数字电压电流源表其控制端通过GPIB线与一计算机连接;一取样电阻用于将待测量样品的交流电压信号提取出来;一锁相放大器其控制端通过GPIB线与一计算机连接;一半反半透镜组位于主光路上;一白光光源用以观察待测量样品台面上的位置;一摄像机和显示器用来显示输出待测量样品台面成像以及激光光斑位置;一钕铁硼环形永磁体同轴套在变温液氮杜瓦样品座的紫铜冷指外部。
部门归属半导体超晶格国家重点实验室
申请日期2011-06-14
专利号CN102253323A
语种中文
专利状态公开
申请号 CN201110159296.8
文献类型专利
条目标识符http://ir.semi.ac.cn/handle/172111/23325
专题半导体超晶格国家重点实验室
推荐引用方式
GB/T 7714
李韫慧,章昊,肖文波,等. 测量电子自旋相关输运的变温显微测量系统, 测量电子自旋相关输运的变温显微测量系统. CN102253323A.
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