| 基于频数直方图测量脉冲激光全脉宽的方法; 基于频数直方图测量脉冲激光全脉宽的方法 |
| 王新伟; 张欣; 周燕; 刘育梁
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| 专利权人 | 中国科学院半导体研究所
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| 公开日期 | 2011-08-31
; 2011-08-31
; 2011-08-31
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| 授权国家 | 中国
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| 专利类型 | 发明
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| 摘要 | 本发明公开了一种基于频数直方图测量脉冲激光全脉宽的方法，该方法通过对采集到的激光时域脉形数据进行频数直方图分析，得到基于频数直方图的分布特征，然后基于该分布特征选取n阶幅值作为阈值，并由该阈值在激光时域脉形中确定一平行于X轴的阈值线，该阈值线与脉形曲线相交，存在多个交点，选取位于脉形峰值点两侧且最近邻峰值点的两交点为测量点，此两测量点间对应的时间宽度便是激光的n阶脉宽。本发明适应性好，测量有效性高，与传统的n％脉宽相比可更为准确地测量激光脉宽。 |
| 部门归属 | 光电系统实验室
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| 专利号 | CN201010564589.X
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| 语种 | 中文
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| 专利状态 | 公开
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| 申请号 | CN201010564589.X
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| 专利代理人 | 周国城
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| 文献类型 | 专利
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| 条目标识符 | http://ir.semi.ac.cn/handle/172111/22485
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| 专题 | 光电系统实验室
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推荐引用方式
GB/T 7714 |
王新伟,张欣,周燕,等. 基于频数直方图测量脉冲激光全脉宽的方法, 基于频数直方图测量脉冲激光全脉宽的方法. CN201010564589.X.
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