SEMI OpenIR  > 光电系统实验室
基于深度指纹获取远距离视频监控目标特征尺寸的方法
王新伟; 周燕; 范松涛; 刘育梁
Rights Holder中国科学院半导体研究所
Date Available2011-08-31
Country中国
Subtype发明
Abstract本发明公开了一种基于深度指纹获取远距离视频监控目标特征尺寸的方法,通过距离选通成像技术获取目标视频监控系统的监控场景感兴趣区的多个切片图像,将该多个切片图像进行叠加获得感兴趣区的深度指纹,并将该深度指纹植入目标视频监控系统中;当监控目标出现在感兴趣区时,将监控目标从背景中提取出来,与所述深度指纹进行匹配,确定监控目标足部特征线所隶属的指纹纹线,该指纹纹线的空间距离信息为目标的距离信息;获得目标距离信息之后,依据透视投影模型下的三维空间与二维像平面间的映射关系,从监控图像中以像素为单位的待测目标特征线段长度反演出目标的特征尺寸信息。本发明解决了传统远距离视频监控系统获取目标特征尺寸信息难的问题。
metadata_83光电系统实验室
Patent NumberCN201010564580.9
Language中文
Status公开
Application NumberCN201010564580.9
Patent Agent周国城
Document Type专利
Identifierhttp://ir.semi.ac.cn/handle/172111/22483
Collection光电系统实验室
Recommended Citation
GB/T 7714
王新伟,周燕,范松涛,等. 基于深度指纹获取远距离视频监控目标特征尺寸的方法. CN201010564580.9.
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