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测量半导体激光器腔面温度的测试系统; 测量半导体激光器腔面温度的测试系统
裘利平; 饶兰
Rights Holder中国科学院半导体研究所
Date Available2011-08-31 ; 2011-08-31 ; 2011-08-31
Country中国
Subtype发明
Abstract一种测量半导体激光器腔面温度的测试系统,包括:一三维微位移平台;一温控平台位于三维微位移平台的上面,温控平台上安装有样品架;一激光头模块位于温控平台的正上方;一滤波片位于激光头模块与温控平台之间的光路上,使滤波片对被测样品发射的激光形成高反,对激光头模块发射的激光形成高透;一脉冲电流源向激光头模块供电,使激光头模块发出一脉冲激光;一直流电流源向温控平台供电;一直流电流源为被测样品提供工作电流;一监控CCD监控被测样品,利于将激光头模块发出的激光光斑照射于被测样品腔面上;一三维微位移平台控制器控制三维微位移平台的三维移动;一锁相放大器的输入端与激光头模块的输出端连接;一台式万用表的输入端与锁相放大器的输出端连接。
metadata_83纳米光电子实验室
Patent NumberCN201010564571.X
Language中文
Status公开
Application NumberCN201010564571.X
Patent Agent汤保平
Document Type专利
Identifierhttp://ir.semi.ac.cn/handle/172111/22421
Collection纳米光电子实验室
Recommended Citation
GB/T 7714
裘利平,饶兰. 测量半导体激光器腔面温度的测试系统, 测量半导体激光器腔面温度的测试系统. CN201010564571.X.
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