| 测量半导体激光器腔面温度的测试系统; 测量半导体激光器腔面温度的测试系统 | |
| 裘利平; 饶兰 | |
| Rights Holder | 中国科学院半导体研究所 |
| Date Available | 2011-08-31 ; 2011-08-31 ; 2011-08-31 |
| Country | 中国 |
| Subtype | 发明 |
| Abstract | 一种测量半导体激光器腔面温度的测试系统，包括：一三维微位移平台；一温控平台位于三维微位移平台的上面，温控平台上安装有样品架；一激光头模块位于温控平台的正上方；一滤波片位于激光头模块与温控平台之间的光路上，使滤波片对被测样品发射的激光形成高反，对激光头模块发射的激光形成高透；一脉冲电流源向激光头模块供电，使激光头模块发出一脉冲激光；一直流电流源向温控平台供电；一直流电流源为被测样品提供工作电流；一监控CCD监控被测样品，利于将激光头模块发出的激光光斑照射于被测样品腔面上；一三维微位移平台控制器控制三维微位移平台的三维移动；一锁相放大器的输入端与激光头模块的输出端连接；一台式万用表的输入端与锁相放大器的输出端连接。 |
| metadata_83 | 纳米光电子实验室 |
| Patent Number | CN201010564571.X |
| Language | 中文 |
| Status | 公开 |
| Application Number | CN201010564571.X |
| Patent Agent | 汤保平 |
| Document Type | 专利 |
| Identifier | http://ir.semi.ac.cn/handle/172111/22421 |
| Collection | 纳米光电子实验室 |
| Recommended Citation GB/T 7714 | 裘利平,饶兰. 测量半导体激光器腔面温度的测试系统, 测量半导体激光器腔面温度的测试系统. CN201010564571.X. |
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| File Name/Size | DocType | Version | Access | License | ||
| CN201010564571.X.pdf（399KB） | 限制开放 | -- | Application Full Text | |||
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