SEMI OpenIR  > 集成光电子学国家重点实验室
实现半导体超辐射发光二极管无制冷封装耦合的方法
谭满清; 孙孟相
专利权人中国科学院半导体研究所
公开日期2011-08-30
授权国家中国
专利类型发明
摘要一种实现半导体超辐射发光二极管无制冷封装耦合的方法,其特征在于,该方法包括:在长方体管壳的底部焊接一散热基座;在散热基座上靠近管壳后壁处焊接上一热沉;将半导体超辐射发光二极管的管芯衬底垂直焊接在该热沉上;从该长方体管壳前壁耦合出出光尾纤,从长方体管壳的侧壁或后壁引出管芯驱动电流的正负极两只管脚;将该长方体管壳置于封焊机的全氮气氛围中,对该长方体管壳进行半导体超辐射发光二极管管芯的无制冷封装。
部门归属集成光电子学国家重点实验室
专利号CN200810224108.3
语种中文
专利状态公开
申请号CN200810224108.3
专利代理人周国城
文献类型专利
条目标识符http://ir.semi.ac.cn/handle/172111/22087
专题集成光电子学国家重点实验室
推荐引用方式
GB/T 7714
谭满清,孙孟相. 实现半导体超辐射发光二极管无制冷封装耦合的方法. CN200810224108.3.
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