Knowledge Management System Of Institute of Semiconductors,CAS
| 分析光学元件保偏特性的方法 | |
| 吴昊; 郑厚植; 朱汇 | |
| 专利权人 | 中国科学院半导体研究所 |
| 公开日期 | 2011-08-30 |
| 授权国家 | 中国 |
| 专利类型 | 发明 |
| 摘要 | 一种分析光学元件保偏特性的方法，包括：由第一宽波段线偏振片和第一宽波段四分之一波长波片组成极化单元，由第二宽波段四分之一波长波片和第二宽波段线偏振片组成检测单元，在同一光路上依次排列有激光器、极化单元、检测单元和光功率计；调节极化单元和调节检测单元；在极化单元和检测单元之间插入待测的光学元件；读取光功率计的读数，若待测光学元件对入射光的偏振状态有所改变，光功率计的读数将有所增加；若待测光学元件对入射光的偏振状态没有改变，则光功率计的读数不变，仍然只反映环境光的强度。 |
| 部门归属 | 半导体超晶格国家重点实验室 |
| 专利号 | CN200910088591.1 |
| 语种 | 中文 |
| 专利状态 | 公开 |
| 申请号 | CN200910088591.1 |
| 专利代理人 | 汤保平 |
| 文献类型 | 专利 |
| 条目标识符 | http://ir.semi.ac.cn/handle/172111/21869 |
| 专题 | 半导体超晶格国家重点实验室 |
| 推荐引用方式 GB/T 7714 | 吴昊,郑厚植,朱汇. 分析光学元件保偏特性的方法. CN200910088591.1. |
| 条目包含的文件 | ||||||
| 文件名称/大小 | 文献类型 | 版本类型 | 开放类型 | 使用许可 | ||
| CN200910088591.1.pdf（371KB） | 限制开放 | -- | 请求全文 | |||
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