SEMI OpenIR  > 半导体超晶格国家重点实验室
具有灵活测量几何的变温显微磁光电测试系统; 具有灵活测量几何的变温显微磁光电测试系统
吴昊; 郑厚植; 朱汇; 李韫慧
Rights Holder中国科学院半导体研究所
Date Available2011-08-30 ; 2011-04-20 ; 2011-08-30
Country中国
Subtype发明
Abstract一套具有灵活测量几何的变温显微磁光电测试系统,包括:一掺钛蓝宝石激光器,在其出射光路上依次排列有斩波器、宽波段线偏振片、光弹调制器、第一宽带消偏振分光棱镜、第二宽带消偏振分光棱镜、第一物镜和液氮杜瓦;该第二宽带消偏振分光棱镜的折射光路上还包括一摄像头及与其连接的显示器,在摄像头之后的光路上有一第二物镜,在第二物镜之后通过光纤连接有一单色仪及其配套的探测器;斩波器与一控制器连接;光弹调制器与一控制器连接;第一宽带消偏振分光棱镜的折射光路上还包括一照明光源及探测器;第二宽带消偏振分光棱镜的折射光路上还包扩一摄像头及与其连接的显示器;一钕铁硼永磁体,同轴但不接触地套在液氮杜瓦的前端;还包括一直流电流源,其两个输出端口通过导线与样品连接。
metadata_83半导体超晶格国家重点实验室
Application Date2009-09-23
Patent NumberCN200910093882.X
Language中文
Status公开
Application NumberCN200910093882.X
Patent Agent汤保平
Document Type专利
Identifierhttp://ir.semi.ac.cn/handle/172111/21865
Collection半导体超晶格国家重点实验室
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GB/T 7714
吴昊,郑厚植,朱汇,等. 具有灵活测量几何的变温显微磁光电测试系统, 具有灵活测量几何的变温显微磁光电测试系统. CN200910093882.X.
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