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SEMI OpenIR  > 中国科学院半导体研究所(2009年前)  > 会议论文

题名: The photon scanning tunneling microscope and its applications
作者: Yao JE;  Guo N;  Gao S;  Wu SF;  Xia DK;  Shang GY;  Chu SC;  Li CJ;  He J;  Xu SH
出版日期: 1997
会议日期: AUG 29-SEP 02, 1995
摘要: A simple photon scanning tunneling microscope (PSTM) is described. Its lateral resolution (similar to 10nm with a maximal scanning range of 10 mu m x 10 mu m ) is much better than that of a conventional optical microscope. Its principle, the fiber optic tip fabrication and PSTM images of different samples such as mica, HDPE and LiNbO3 are presented.
会议名称: 14th International Congress on X-ray Optics and Microanalysis (ICXOM)
KOS主题词: Microscopy
会议文集: JOURNAL OF TRACE AND MICROPROBE TECHNIQUES, 15 (4)
专题: 中国科学院半导体研究所(2009年前)_会议论文

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推荐引用方式:
Yao JE; Guo N; Gao S; Wu SF; Xia DK; Shang GY; Chu SC; Li CJ; He J; Xu SH .The photon scanning tunneling microscope and its applications .见:MARCEL DEKKER INC .JOURNAL OF TRACE AND MICROPROBE TECHNIQUES, 15 (4),270 MADISON AVE, NEW YORK, NY 10016 USA ,1997,621-628
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