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SEMI OpenIR  > 中国科学院半导体研究所(2009年前)  > 会议论文

题名: Two-port calibration of test fixtures with OSL method.
作者: Chen ZY;  Wang YL;  Liu Y;  Zhu NH
出版日期: 2002
会议日期: AUG 17-19, 2002
摘要: The open-short-load (OSL) method is very simple and widely used, for one-port test fixture calibration. In this paper, this method. is extended to the two-port calibration of test fixtures for the first time. The problem of phase uncertainty arising in this application has been solved. The comparison between our results and those obtained with the short-open-load-thru (SOLT) method shows that the method established is accurate enough for practical applications.
会议名称: 3rd International Conference on Microwave and Millimeter Wave Technology
KOS主题词: Calibration;  Line
会议文集: 2002 3RD INTERNATIONAL CONFERENCE ON MICROWAVE AND MILLIMETER WAVE TECHNOLOGY PROCEEDINGS
专题: 中国科学院半导体研究所(2009年前)_会议论文

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推荐引用方式:
Chen ZY; Wang YL; Liu Y; Zhu NH .Two-port calibration of test fixtures with OSL method. .见:IEEE .2002 3RD INTERNATIONAL CONFERENCE ON MICROWAVE AND MILLIMETER WAVE TECHNOLOGY PROCEEDINGS,345 E 47TH ST, NEW YORK, NY 10017 USA ,2002,138-141
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