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SEMI OpenIR  > 中国科学院半导体研究所(2009年前)  > 会议论文

题名: STUDY OF MICROSTRUCTURE AND DEFECTS IN HYDROGENATED MICROCRYSTALLINE SILICON FILMS
作者: Peng WB (Peng Wenbo);  Zeng XB (Zeng Xiangbo);  Liu SY (Liu Shiyong);  Xiao HB (Xiao Haibo);  Kong GL (Kong Guanglin);  Yu YD (Yu Yude);  Liao XB (Liao Xianbo)
出版日期: 2010-8-16
会议日期: 2009
会议名称: 34th IEEE Photovoltaic Specialists Conference
专题: 中国科学院半导体研究所(2009年前)_会议论文

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STUDY OF MICROSTRUCTURE AND DEFECTS IN HYDROGENATED MICROCRYSTALLINE SILICON FILMS.pdf735KbAdobe PDF 联系获取全文


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Peng WB (Peng Wenbo),Zeng XB (Zeng Xiangbo),Liu SY (Liu Shiyong),Xiao HB (Xiao Haibo),Kong GL (Kong Guanglin),Yu YD (Yu Yude),Liao XB (Liao Xianbo).STUDY OF MICROSTRUCTURE AND DEFECTS IN HYDROGENATED MICROCRYSTALLINE SILICON FILMS.见:34th IEEE Photovoltaic Specialists Conference.Philadelphia, PA.2009.
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