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SEMI OpenIR  > 中国科学院半导体研究所(2009年前)  > 专利

专利名称: 检测嵌段共聚物胶束溶液负载金属盐能力的方法
发明人: 高 云;  屈 盛;  张兴旺;  陈诺夫
授权日期: 2010-8-12
摘要: 本发明一种检测嵌段共聚物胶束溶液负载金属盐能力的方法,其特征在于,该方法包括如下步骤:步骤1:在固定浓度的嵌段共聚物胶束溶液中,分别加入不同量的金属盐,从而得到多组具有不同金属盐浓度的胶束溶液;步骤2:利用旋涂法将多组负载有不同量金属盐的嵌段共聚物胶束溶液分别沉积到红外可透过的单晶硅衬底上,得到金属盐负载的胶束阵列;步骤3:分别对硅衬底上负载有不同量金属盐的胶束阵列进行红外吸收谱测量;步骤4:将测量的结果进行分析,得出这种嵌段共聚物对此种金属盐的最大负载量以及键合方式。
专题: 半导体研究所机构知识库_专利

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推荐引用方式:
高 云;屈 盛;张兴旺;陈诺夫 ,检测嵌段共聚物胶束溶液负载金属盐能力的方法,CN200810115181.7 ,2008-06-18
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