Knowledge Management System Of Institute of Semiconductors,CAS
取样光栅分布布拉格反射半导体激光器的制作方法 | |
刘泓波; 赵玲娟; 潘教青; 朱洪亮; 王 圩 | |
2010-08-12 | |
专利权人 | 中国科学院半导体研究所 |
公开日期 | 2010-01-16 ; 2010-08-12 |
授权国家 | 中国 |
专利类型 | 发明 |
摘要 | 一种取样光栅分布布拉格反射半导体激光器的制作方法,包括:在n型InP衬底上分别外延InP缓冲层和介质膜;在介质膜上刻出条形凹槽,并依次生长InGaAsP下限制层、InGaAsP/InGaAsP多量子阱、InGaAsP上限制层和InP光栅制作保护层;去除介质膜;刻出多条取样光栅窗口;制作取样光栅;腐蚀保护层;依次生长p-InP层、p-InGaAsP刻蚀阻止层、p-InP层和p+-InGaAs层;形成脊形波导;刻蚀形成电隔离沟;在p-InGaAsP刻蚀阻止层上进行He离子注入;在上述步骤制作的器件结构的上表面和脊形波导的侧面淀积介质绝缘层;在器件的上表面溅射p电极;将衬底减薄,并蒸发n电极,解理管芯,完成器件的制作。 |
申请日期 | 2008-07-02 |
语种 | 中文 |
专利状态 | 实质审查的生效 |
申请号 | CN200810116039.4 |
专利代理人 | 汤保平:中科专利商标代理有限责任公司 |
文献类型 | 专利 |
条目标识符 | http://ir.semi.ac.cn/handle/172111/13434 |
专题 | 中国科学院半导体研究所(2009年前) |
推荐引用方式 GB/T 7714 | 刘泓波,赵玲娟,潘教青,等. 取样光栅分布布拉格反射半导体激光器的制作方法[P]. 2010-08-12. |
条目包含的文件 | ||||||
文件名称/大小 | 文献类型 | 版本类型 | 开放类型 | 使用许可 | ||
3583.pdf(527KB) | 限制开放 | -- | 请求全文 |
个性服务 |
推荐该条目 |
保存到收藏夹 |
查看访问统计 |
导出为Endnote文件 |
谷歌学术 |
谷歌学术中相似的文章 |
[刘泓波]的文章 |
[赵玲娟]的文章 |
[潘教青]的文章 |
百度学术 |
百度学术中相似的文章 |
[刘泓波]的文章 |
[赵玲娟]的文章 |
[潘教青]的文章 |
必应学术 |
必应学术中相似的文章 |
[刘泓波]的文章 |
[赵玲娟]的文章 |
[潘教青]的文章 |
相关权益政策 |
暂无数据 |
收藏/分享 |
除非特别说明,本系统中所有内容都受版权保护,并保留所有权利。
修改评论