高级检索   注册
SEMI OpenIR  > 中国科学院半导体研究所(2009年前)  > 专利

专利名称: 电学测试的汞探针装置
发明人: 纪 刚;  孙国胜;  宁 瑾;  刘兴昉;  赵永梅;  王 雷;  赵万顺;  曾一平;  李晋闽
授权日期: 2010-8-12
摘要: 一种电学测试的汞探针装置,其特征在于,包括:一基座,该基座为扁平状的圆柱体,在基座的中心处纵向开有一细水银槽,在基座的中心处细水银槽的周围开有圆环形的水银槽;在基座的左侧圆柱体侧壁上开有一左水银槽,该左水银槽与圆环形的水银槽连通;与左水银槽相对的位置开有一右水银槽,该右水银槽与细水银槽垂直连通;与左、右水银槽垂直,在基座的上面分别开有一与左、右水银槽连通的左、右水银通道;一左推杆,该左推杆的一端插入在左水银槽内;一右推杆,该右推杆的一端插入在右水银槽内。
专题: 半导体研究所机构知识库_专利

条目包含的文件

文件 大小格式
3560.pdf270KbAdobe PDF 联系获取全文


许可声明:条目相关作品遵循知识共享协议(Creative Commons)。


推荐引用方式:
纪 刚;孙国胜;宁 瑾;刘兴昉;赵永梅;王 雷;赵万顺;曾一平;李晋闽 ,电学测试的汞探针装置,CN200810118013.3 ,2008-08-06
个性服务
 推荐该条目
 保存到收藏夹
 查看访问统计
 Endnote导出
Google Scholar
 Google Scholar中相似的文章
 [纪 刚]的文章
 [孙国胜]的文章
 [宁 瑾]的文章
CSDL跨库检索
 CSDL跨库检索中相似的文章
 [纪 刚]的文章
 [孙国胜]的文章
 [宁 瑾]的文章
Scirus search
 Scirus中相似的文章
Social Bookmarking
  Add to CiteULike  Add to Connotea  Add to Del.icio.us  Add to Digg  Add to Reddit 
所有评论 (0)
暂无评论

除非特别说明,本系统中所有内容都受版权保护,并保留所有权利。

 

 

Valid XHTML 1.0! 版权所有 © 2007-2012  中国科学院半导体研究所  -反馈
系统开发与技术支持:中国科学院国家科学图书馆兰州分馆(信息系统部)
本系统基于 MIT 和 Hewlett-Packard 的 DSpace 软件开发