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SEMI OpenIR  > 中国科学院半导体研究所(2009年前)  > 专利

专利名称: 在高低温工作条件下对光电器件进行测试的装置和方法
发明人: 提刘旺;  杨晓红;  韩 勤
授权日期: 2010-8-12
摘要: 本发明公开了一种在高低温工作条件下对光电器件进行测试的装置,该装置包括:一导温密封腔,用于容置待检测光电器件,具有一光窗口,用于被检测光电器件的光输出或光输入;一支架,该导温密封腔固定于该支架的顶端;一托架,设置于该支架的下端,可沿支架上下移动;一加热或冷却设备,固定于该托架上,随托架一起沿支架上下移动,用于对导温密封腔进行加热或冷却,实现高低温工作条件。本发明提供的在高低温工作条件下对光电器件进行测试的装置和方法,解决了在高低温工作条件下窄脉宽光发射器件和微光光电探测器件参数测试的短线电连接问题,既保证了规定高低温工作环境温度的准确和稳定,又解决了短连线信号输入输出要求、结霜短路和结霜挡光等问题,且结构简单,造价低廉,具有很高的应用价值。
专题: 半导体研究所机构知识库_专利

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推荐引用方式:
提刘旺;杨晓红;韩 勤 ,在高低温工作条件下对光电器件进行测试的装置和方法,CN200810223612.1 ,2008-09-27
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