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中国科学院半导体研究所机构知识库
Knowledge Management System Of Institute of Semiconductors,CAS
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专题:半导体超晶格国家重点实验室
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Li, Bo
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Wan, Zhong
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Wang, Cong
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提交时间:2022/09/30
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Wu, Xulei
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Wang, Huatao
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Xue, Rui
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Cui, Hongxin
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Huang, Xiaoxiao
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提交时间:2022/03/28
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提交时间:2021/06/28
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提交时间:2018/07/02
测量电子自旋相关输运的变温显微测量系统
专利
专利类型: 发明, 专利号: CN102253323A, 公开日期: 2012-08-29, 2011-11-23, 2012-08-29
发明人:
李韫慧
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章昊
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肖文波
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吴昊
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谭平恒
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提交时间:2012/08/29
一种芯片封装外观缺陷检测系统及方法
专利
专利类型: 发明, 公开日期: 2016-08-30
发明人:
李搏
;
吴南健
;
刘剑
;
杨永兴
;
杨杰
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提交时间:2016/08/30
一种芯片外观缺陷检测系统
专利
专利类型: 发明, 公开日期: 2016-08-30
发明人:
李搏
;
吴南健
;
刘剑
;
杨永兴
;
杨杰
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提交时间:2016/08/30
适用于温度传感器的可编程开关电容积分器
专利
专利类型: 发明, 公开日期: 2014-05-28
发明人:
谷永胜
;
吴南健
;
赵柏秦
;
冯鹏
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提交时间:2014/11/24
测量土壤含水量和温度的装置
专利
专利类型: 发明, 公开日期: 2016-09-28
发明人:
王志勇
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丁时栋
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李贵柯
;
吴南健
;
赵柏秦
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提交时间:2016/09/28