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无权访问的条目 期刊论文
作者:  He, XW;  Shen, B;  Chen, YH;  Zhang, Q;  Han, K;  Yin, CM;  Tang, N;  Xu, FJ;  Tang, CG;  Yang, ZJ;  Qin, ZX;  Zhang, GY;  Wang, ZG;  He, XW, Peking Univ, State Key Lab Artificial Microstruct & Mesosco Ph, Sch Phys, Beijing 100871, Peoples R China. 电子邮箱地址: bshen@pku.edu.cn;  yhchen@red.semi.ac.cn
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无权访问的条目 期刊论文
作者:  Fang, ZJ;  Fang, C;  Shi, LJ;  Liu, YH;  He, MC;  Fang, ZJ, China Univ Min & Technol, Sch Mech & Civil Engn, Beijing 100083, Peoples R China. 电子邮箱地址: nnfang@semi.ac.cn
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无权访问的条目 期刊论文
作者:  Tang YQ;  Shen B;  He XW;  Han K;  Tang N;  Chen WH;  Yang ZJ;  Zhang GY;  Chen YH;  Tang CG;  Wang ZG;  Cho KS;  Chen YF;  Tang, YQ, Peking Univ, Sch Phys, State Key Lab Artificial Microstruct & Mesoscop P, Beijing 100871, Peoples R China. 电子邮箱地址: bshen@pku.edu.cn;  yhchen@red.semi.ac.cn
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无权访问的条目 期刊论文
作者:  He XW;  Shen B;  Tang YQ;  Tang N;  Yin CM;  Xu FJ;  Yang ZJ;  Zhang GY;  Chen YH;  Tang CG;  Wang ZG;  He, XW, Peking Univ, Sch Phys, State Key Lab Artificial Microstruct & Mesoscop P, Beijing 100871, Peoples R China. 电子邮箱地址: bshen@pku.edu.cn;  yhchen@red.semi.ac.cn
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Dependence of ultra-thin gate oxide reliability on surface cleaning approach 会议论文
1998 5TH INTERNATIONAL CONFERENCE ON SOLID-STATE AND INTEGRATED CIRCUIT TECHNOLOGY PROCEEDINGS, BEIJING, PEOPLES R CHINA, OCT 21-23, 1998
作者:  Gao WY;  Liu ZL;  He ZJ;  Gao WY Chinese Acad Sci Inst Semicond Beijing 100083 Peoples R China.
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Chemical Treatment  Quality  Technology  Films  
Improvement of CMOS SOS devices characteristics by a modified solid phase epitaxy 会议论文
1998 5TH INTERNATIONAL CONFERENCE ON SOLID-STATE AND INTEGRATED CIRCUIT TECHNOLOGY PROCEEDINGS, BEIJING, PEOPLES R CHINA, OCT 21-23, 1998
作者:  Liu ZL;  He ZJ;  Yu F;  Nie JP;  Yu YH;  Liu ZL Chinese Acad Sci Inst Semicond Beijing 100083 Peoples R China.
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Sapphire Films  Silicon  
JFET SOS devices: Processing and gamma radiation effects 会议论文
1998 5TH INTERNATIONAL CONFERENCE ON SOLID-STATE AND INTEGRATED CIRCUIT TECHNOLOGY PROCEEDINGS, BEIJING, PEOPLES R CHINA, OCT 21-23, 1998
作者:  Nie JP;  Liu ZL;  He ZJ;  Yu F;  Li GH;  Nie JP Chinese Acad Sci Inst Semicond Beijing 100083 Peoples R China.
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Silicon