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基于数学形态学的量子点检测方法 专利
专利类型: 发明, 公开日期: 2012-12-19
发明人:  徐露露;  鲁华祥;  边昳;  陈旭;  龚国良;  刘文鹏;  张放;  金敏;  陈刚
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基于SOBI及FastICA的同频信号相位差测量方法 专利
专利类型: 发明, 公开日期: 2012-10-24
发明人:  龚国良;  鲁华祥;  边昳;  陈旭;  陈刚;  张放;  金敏;  徐元
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电力绝缘设备性能测量及电流传感器固有相移测量方法 专利
专利类型: 发明, 公开日期: 2013-08-14
发明人:  张放;  鲁华祥;  龚国良;  陈刚;  金敏;  边昳
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电力绝缘设备性能测量及电流传感器固有相移测量方法 专利
专利类型: 发明, 公开日期: 2013-08-14
发明人:  张放;  鲁华祥;  龚国良;  陈刚;  金敏;  边昳
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