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对原位表面磁光克尔效应进行测量的系统及方法 专利
专利类型: 发明, 申请日期: 2010-08-12, 公开日期: 2010-03-31, 2010-08-12
发明人:  赵建华;  姬 扬;  郑厚植;  杨 威;  鲁 军
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无权访问的条目 期刊论文
作者:  Yang W (Yang Wei);  Luo HH (Luo Hai-Hui);  Qian X (Qian Xuan);  Ji Y (Ji Yang);  Yang, W, Chinese Acad Sci, Inst Semicond, State Key Lab Superlattices & Microstruct, Beijing 100083, Peoples R China. 电子邮箱地址: jiyang@semi.ac.cn
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