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变温的高阻半导体材料光电测试装置 专利
专利类型: 实用新型, 申请日期: 2001-08-22, 公开日期: 2009-06-04, 2009-06-11
发明人:  张砚华;  卢励吾;  樊志军
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无权访问的条目 期刊论文
作者:  熊党生;  张彦华;  徐嘉东
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无权访问的条目 期刊论文
作者:  卢励吾;  张砚华;  K.K.Mak;  Ma Z H;  Wang J;  I.K.Sou;  Wei Kunge
Adobe PDF(348Kb)  |  收藏  |  浏览/下载：914/251  |  提交时间：2010/11/23