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一种控温的半导体光电特性测试样品架 专利
专利类型: 实用新型, 申请日期: 1999-07-28, 公开日期: 2009-06-04, 2009-06-11
发明人:  张砚华;  卢励吾
Adobe PDF(225Kb)  |  收藏  |  浏览/下载：1038/141  |  提交时间：2009/06/11
无权访问的条目 期刊论文
作者:  卢励吾;  张砚华;  Ge Weikun;  Ho W Y;  Surya Charles;  Tongc K Y
Adobe PDF(131Kb)  |  收藏  |  浏览/下载：1107/247  |  提交时间：2010/11/23