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采用AFM纳米压印图形衬底生长定位量子点的MBE方法 专利
专利类型: 发明, 公开日期: 2014-02-19
发明人:  査国伟;  牛智川;  倪海桥;  尚向军;  贺振宏
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利用AFM的探针制备图形衬底的定位纳米压印系统 专利
专利类型: 发明, 公开日期: 2014-02-19
发明人:  査国伟;  牛智川;  倪海桥;  尚向军;  贺振宏
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