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二元判定图器件 专利
专利类型: 发明, 申请日期: 2005-10-05, 公开日期: 2009-06-04, 2009-06-11
发明人:  吴南健;  陆江;  刘肃;  邝小飞
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无权访问的条目 期刊论文
作者:  Jiang CP;  Zhao JH;  Deng JJ;  Yang FH;  Niu ZC;  Wu XG;  Zheng HZ;  Zhao, JH, Chinese Acad Sci, Inst Semicond, State Key Lab Superlattices & Microstruct, POB 912, Beijing 100083, Peoples R China. 电子邮箱地址: jhzhao@red.semi.ac.cn
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无权访问的条目 期刊论文
作者:  Qu, YH;  Jiang, D;  Wu, DH;  Niu, ZC;  Sun, Z;  Qu, YH, Chinese Acad Sci, Inst Semicond, Beijing 100083, Peoples R China. 电子邮箱地址: topyuhua@red.semi.ac.cn
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无权访问的条目 期刊论文
作者:  陆江;  吴南健;  刘肃;  邝小飞
Adobe PDF(375Kb)  |  收藏  |  浏览/下载：1013/184  |  提交时间：2010/11/23
无权访问的条目 期刊论文
作者:  Deng Jiajun;  Zhao Jianhua;  Jiang Chunping;  Zhang Yan;  Niu Zhichuan;  Yang Fuhua;  Wu Xiaoguang;  Zheng Houzhi
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无权访问的条目 期刊论文
作者:  徐晓华;  牛智川;  倪海桥;  徐应强;  张纬;  贺正宏;  韩勤;  吴荣汉;  江德生
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无权访问的条目 期刊论文
作者:  Xu XH;  Niu ZC;  Ni HQ;  Xu YQ;  Zhang W;  He ZH;  Han Q;  Wu RH;  Jiang DS;  Niu, ZC, Chinese Acad Sci, Inst Semicond, Beijing 100083, Peoples R China. 电子邮箱地址: zcniu@red.semi.ac.cn
Adobe PDF(199Kb)  |  收藏  |  浏览/下载：954/250  |  提交时间：2010/03/17