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中国科学院半导体研究所机构知识库
Knowledge Management System Of Institute of Semiconductors,CAS
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期刊论文
作者:
Zhang LZ
;
Cao Q
;
Zuo YH
;
Xue CL
;
Cheng BW
;
Wang QM
;
Zhang, LZ, Chinese Acad Sci, Inst Semicond, Beijing 100083, Peoples R China. zhang.labs@gmail.com
;
pobakey@semi.ac.cn
;
yhzuo@semi.ac.cn
;
clxue@semi.ac.cn
;
cbw@semi.ac.cn
;
qmwang@semi.ac.cn
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提交时间:2011/07/05
无权访问的条目
期刊论文
作者:
Zhao HQ (Zhao Hong-Quan)
;
Yu LJ (Yu Li-Juan)
;
Huang YZ (Huang Yong-Zhen)
;
Wang YT (Wang Yu-Tian)
;
Zhao, HQ, Chinese Acad Sci, Inst Semicond, State Key Lab Integrated Optoelect, POB 912, Beijing 100083, Peoples R China. E-mail: zhggeneral@red.semi.ac.cn
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浏览/下载:1085/335
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提交时间:2010/04/11
无权访问的条目
期刊论文
作者:
Sun YP
;
Fu Y
;
Qu B
;
Wang YT
;
Feng ZH
;
Shen XM
;
Zhao DG
;
Zheng XH
;
Duan LH
;
Li BC
;
Zhang SM
;
Yang H
;
Sun YP,Chinese Acad Sci,Inst Semicond,State Key Lab Integrated Optoelect,Beijing 100083,Peoples R China. 电子邮箱地址: ypsun@red.semi.ac.cn
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提交时间:2010/08/12
A model of dislocations at the interface of the bonded wafers
会议论文
OPTICAL INTERCONNECTS FOR TELECOMMUNICATION AND DATA COMMUNICATIONS, 4225, BEIJING, PEOPLES R CHINA, NOV 08-10, 2000
作者:
Han WH
;
Yu JZ
;
Wang LC
;
Wei HZ
;
Zhang XF
;
Wang QM
;
Han WH Chinese Acad Sci Inst Semicond State Key Lab Integrated Optoelect POB 912 Beijing 100083 Peoples R China.
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提交时间:2010/10/29
Wafer Bonding
Heteroepitaxy
Lattice Mismatch
Edge-like Dislocations
Thermal Stress
60 Degrees Dislocation Lines
Gaas