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中国科学院半导体研究所机构知识库
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1999 [1]
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Structural properties of polycrystalline silicon films formed by pulsed rapid thermal processing
会议论文
AMORPHOUS AND MICROCRYSTALLINE SILICON TECHNOLOGY-1998, 507, SAN FRANCISCO, CA, APR 14-17, 1998
作者:
Wang YQ
;
Liao XB
;
Diao HW
;
He J
;
Ma ZX
;
Yue GZ
;
Shen SR
;
Kong GL
;
Zhao YW
;
Li ZM
;
Yun F
;
Wang YQ Chinese Acad Sci Inst Semicond State Lab Surface Phys POB 912 Beijing 100083 Peoples R China.
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提交时间:2010/10/29
Amorphous-silicon
Crystallization
Transistors