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Observation of defects in GaN epilayers 会议论文
DEFECT RECOGNITION AND IMAGE PROCESSING IN SEMICONDUCTORS 1997, 160, TEMPLIN, GERMANY, SEP 07-10, 1997
作者:  Kang JY;  Liu XL;  Ogawa T;  Kang JY Gakushuin Univ Dept Phys Tokyo 171 Japan.
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Scattering  Sapphire  Growth  
Characterization of GaSb substrate wafers for MOCVD III-V antimonides 会议论文
DEFECT RECOGNITION AND IMAGE PROCESSING IN SEMICONDUCTORS 1997, 160, TEMPLIN, GERMANY, SEP 07-10, 1997
作者:  Peng RW;  Ding YQ;  Xu CM;  Wang XG;  Peng RW Acad Sinica Shanghai Inst Met Shanghai 200050 Peoples R China.
Adobe PDF(240Kb)  |  收藏  |  浏览/下载：1328/185  |  提交时间：2010/11/15
Vapor-phase Epitaxy  Growth