Knowledge Management System Of Institute of Semiconductors,CAS
| 一种可调整测量几何的磁光圆偏振二向色性测量系统 | |
甘华东 ; 郑厚植; 孙宝权; 赵建华
| |
| 2008-06-11 | |
| 公开日期 | 2009-06-04 ; 2009-06-11 |
| 专利类型 | 发明 |
| 申请日期 | 2006-12-07 |
| 语种 | 中文 |
| 申请号 | 200610164886 |
| 文献类型 | 专利 |
| 条目标识符 | http://ir.semi.ac.cn/handle/172111/4071 |
| 专题 | 中国科学院半导体研究所（2009年前） |
| 推荐引用方式 GB/T 7714 | 甘华东,郑厚植,孙宝权,等. 一种可调整测量几何的磁光圆偏振二向色性测量系统[P]. 2008-06-11. |
| 条目包含的文件 | ||||||
| 文件名称/大小 | 文献类型 | 版本类型 | 开放类型 | 使用许可 | ||
| 200610164886.pdf（552KB） | 限制开放 | -- | 请求全文 | |||
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