SEMI OpenIR  > 光电系统实验室
基于机器视觉的半导体器件封装材料智能化检测技术研究
杨凯丰
学位类型硕士
2021-06
学位授予单位中国科学院大学
学位授予地点中国科学院半导体研究所
语种中文
公开日期2021-06
文献类型学位论文
条目标识符http://ir.semi.ac.cn/handle/172111/31198
专题光电系统实验室
推荐引用方式
GB/T 7714
杨凯丰. 基于机器视觉的半导体器件封装材料智能化检测技术研究[D]. 中国科学院半导体研究所. 中国科学院大学,2021.
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GK2022100-硕士-光电系统-杨凯(5330KB)学位论文 限制开放CC BY-NC-SA请求全文
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