| 近零偏时半导体红外光电探测器表面暗电流的测量方法 | |
| 李琼; 马文全; 张艳华; 黄建亮 | |
| 专利权人 | 中国科学院半导体研究所 |
| 公开日期 | 2014-07-30 |
| 授权国家 | 中国 |
| 专利类型 | 发明 |
| 学科领域 | 半导体材料 |
| 申请日期 | 2014-03-28 |
| 申请号 | CN201410121021.9 |
| 文献类型 | 专利 |
| 条目标识符 | http://ir.semi.ac.cn/handle/172111/25732 |
| 专题 | 纳米光电子实验室 |
| 推荐引用方式 GB/T 7714 | 李琼,马文全,张艳华,等. 近零偏时半导体红外光电探测器表面暗电流的测量方法. |
| 条目包含的文件 | ||||||
| 文件名称/大小 | 文献类型 | 版本类型 | 开放类型 | 使用许可 | ||
| 近零偏时半导体红外光电探测器表面暗电流的（617KB） | 限制开放 | 使用许可 | 请求全文 | |||
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