SEMI OpenIR  > 光电系统实验室
距离选通编码超分辨率三维成像方法
王新伟; 周燕
专利权人中国科学院半导体研究所
公开日期2013-12-11
授权国家中国
专利类型发明
学科领域光电子学
申请日期2013-06-13
申请号CN201310233404.0
文献类型专利
条目标识符http://ir.semi.ac.cn/handle/172111/25536
专题光电系统实验室
推荐引用方式
GB/T 7714
王新伟,周燕. 距离选通编码超分辨率三维成像方法.
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距离选通编码超分辨率三维成像方法.pdf(1394KB) 限制开放使用许可请求全文
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