SEMI OpenIR  > 半导体超晶格国家重点实验室
基于高速图像传感器和并行处理的视觉检测系统
杨永兴; 吴南健; 石匆; 杨杰
专利权人中国科学院半导体研究所
公开日期2014-01-29
授权国家中国
专利类型发明
学科领域半导体物理
申请日期2013-10-22
申请号CN201310498720.0
文献类型专利
条目标识符http://ir.semi.ac.cn/handle/172111/25508
专题半导体超晶格国家重点实验室
推荐引用方式
GB/T 7714
杨永兴,吴南健,石匆,等. 基于高速图像传感器和并行处理的视觉检测系统.
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基于高速图像传感器和并行处理的视觉检测系(624KB) 限制开放使用许可请求全文
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