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一种AlGaN基双色日盲紫外探测器及制作方法
杨敏; 种明; 赵德刚; 王晓勇; 苏艳梅; 孙捷; 孙秀艳
专利权人中国科学院半导体研究所
公开日期2014-03-19
授权国家中国
专利类型发明
学科领域光电子学
申请日期2013-12-26
申请号CN201310729555.5
文献类型专利
条目标识符http://ir.semi.ac.cn/handle/172111/25400
专题光电子研究发展中心
推荐引用方式
GB/T 7714
杨敏,种明,赵德刚,等. 一种AlGaN基双色日盲紫外探测器及制作方法.
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一种AlGaN基双色日盲紫外探测器及制作(1507KB) 限制开放使用许可请求全文
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