测量肖特基势垒高度的装置和方法 | |
刘宗顺; 赵德刚; 陈平; 江德生 | |
Rights Holder | 中国科学院半导体研究所 |
Date Available | 2012-10-17 |
Country | 中国 |
Subtype | 发明 |
Subject Area | 光电子学 |
Application Date | 2012-06-19 |
Application Number | CN201210209958.2 |
Document Type | 专利 |
Identifier | http://ir.semi.ac.cn/handle/172111/25310 |
Collection | 光电子研究发展中心 |
Recommended Citation GB/T 7714 | 刘宗顺,赵德刚,陈平,等. 测量肖特基势垒高度的装置和方法. |
Files in This Item: | ||||||
File Name/Size | DocType | Version | Access | License | ||
测量肖特基势垒高度的装置和方法.pdf(880KB) | 限制开放 | License | Application Full Text |
Items in the repository are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.
Edit Comment