SEMI OpenIR  > 半导体超晶格国家重点实验室
磁圆二向色性光电导谱测量系统
黄学骄; 王丽国; 申超; 朱汇
专利权人中国科学院半导体研究所
公开日期2012-09-19
授权国家中国
专利类型发明
学科领域半导体物理
申请日期2012-05-15
申请号CN201210150271.6
文献类型专利
条目标识符http://ir.semi.ac.cn/handle/172111/25256
专题半导体超晶格国家重点实验室
推荐引用方式
GB/T 7714
黄学骄,王丽国,申超,等. 磁圆二向色性光电导谱测量系统.
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磁圆二向色性光电导谱测量系统.pdf(437KB) 限制开放使用许可请求全文
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