| 用于测序芯片的安装座与CCD相机间的暗室; 用于测序芯片的安装座与CCD相机间的暗室 | |
| 任鲁风; 王绪敏; 李运涛; 周晓光; 袁丽娜; 冯玉臣; 秦奕; 韩伟静; 谷岚; 滕明静; 俞育德; 于军 | |
| 专利权人 | 中国科学院半导体研究所 |
| 公开日期 | 2012-10-03 ; 2012-10-03 ; 2012-10-03 |
| 授权国家 | 中国 |
| 专利类型 | 发明 |
| 学科领域 | 光电子学 |
| 申请日期 | 2012-05-24 |
| 语种 | 中文 |
| 申请号 | CN201210164839.X |
| 文献类型 | 专利 |
| 条目标识符 | http://ir.semi.ac.cn/handle/172111/25150 |
| 专题 | 光电子研究发展中心 |
| 推荐引用方式 GB/T 7714 | 任鲁风,王绪敏,李运涛,等. 用于测序芯片的安装座与CCD相机间的暗室, 用于测序芯片的安装座与CCD相机间的暗室. |
| 条目包含的文件 | ||||||
| 文件名称/大小 | 文献类型 | 版本类型 | 开放类型 | 使用许可 | ||
| 用于测序芯片的安装座与CCD相机间的暗室（319KB） | 限制开放 | 使用许可 | 请求全文 | |||
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