SEMI OpenIR  > 集成光电子学国家重点实验室
高速调制光发射器件非线性谐波特性的光量化器; 高速调制光发射器件非线性谐波特性的光量化器
刘建国; 王佳胜; 王礼贤; 祝宁华
专利权人中国科学院半导体研究所
公开日期2012-09-09 ; 2012-09-09 ; 2012-09-09 ; 2012-09-09
授权国家中国
专利类型发明
摘要 一种基于高速调制光发射器件非线性谐波特性的高速光量化器,包括:一高速微波电信号源;一采样光源,该采样光源接收高速微波电信号源的信号;一强度调制器,该强度调制器的输入端与采样光源的输出端连接;一高速光电探测器,该高速光电探测器的输入端与强度调制器的输出端连接;一待测模拟微波信号源,该待测模拟微波信号源向强度调制器发送信号;一线性电放大器,该线性电放大器接收高速光电探测器的信号;一高速调制光发射器件,该高速调制光发射器件接收线性电放大器的信号;一波导阵列光栅,该波导阵列光栅的输入端与高速调制光发射器件的输出端连接;一并行高速光探测阵列,该并行高速光探测阵列的输入端与波导阵列光栅的输出端连接。
部门归属集成光电子学国家重点实验室
语种中文
专利状态公开
申请号 CN201110343445.6
文献类型专利
条目标识符http://ir.semi.ac.cn/handle/172111/23415
专题集成光电子学国家重点实验室
推荐引用方式
GB/T 7714
刘建国,王佳胜,王礼贤,等. 高速调制光发射器件非线性谐波特性的光量化器, 高速调制光发射器件非线性谐波特性的光量化器.
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高速调制光发射器件非线性谐波特性的光量化(300KB) 限制开放使用许可请求全文
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