SEMI OpenIR  > 半导体超晶格国家重点实验室
基于分数分频频率综合器的多标准I/Q正交载波产生装置; 基于分数分频频率综合器的多标准I/Q正交载波产生装置
楼文峰; 吴南健; 颜小舟; 耿志卿
专利权人中国科学院半导体研究所
公开日期2012-08-29 ; 2011-07-13 ; 2012-08-29
授权国家中国
专利类型发明
摘要 本发明公开了一种基于分数分频频率综合器的多标准I/Q正交载波产生装置,该装置包括三阶差分环路滤波器(10)、预置模块(11)、全差分正交压控振荡器(12)、开关型缓冲器(13)、连续除2分频器模块(14)、多模分频器(15)、鉴频鉴相器/电荷泵(16)、非易失性存储器(17)和数字处理器(18)。利用本发明,通过合理的频率分配使得在0.7GHz到6GHz范围内频率能够连续覆盖,并且通过具有强大功能的数字处理器对频率进行预置实现了很快速的跳频。
部门归属半导体超晶格国家重点实验室
申请日期2010-12-07
专利号CN102122955A
语种中文
专利状态公开
申请号 CN201010577133.7
文献类型专利
条目标识符http://ir.semi.ac.cn/handle/172111/23333
专题半导体超晶格国家重点实验室
推荐引用方式
GB/T 7714
楼文峰,吴南健,颜小舟,等. 基于分数分频频率综合器的多标准I/Q正交载波产生装置, 基于分数分频频率综合器的多标准I/Q正交载波产生装置. CN102122955A.
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基于分数分频频率综合器的多标准I_Q正交(774KB) 限制开放使用许可请求全文
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