| 一种对半导体材料进行霍尔测试的装置 | |
| 李弋洋; 李成基; 曾一平 | |
| Rights Holder | 中国科学院半导体研究所 |
| Date Available | 2011-08-31 |
| Country | 中国 |
| Subtype | 发明 |
| Abstract | 本发明公开了一种对半导体材料进行霍尔测试的装置，该装置包括第一单刀双掷继电器(A)、第二单刀双掷继电器(B)、第三单刀双掷继电器(C)、第四单刀双掷继电器(D)、第五单刀双掷继电器(a)、第六单刀双掷继电器(b)、第七单刀双掷继电器(c)和第八单刀双掷继电器(d)。利用本发明，提高了测试的效率，最大限度的减少测试中人为操作带来的误差。 |
| metadata_83 | 半导体材料科学中心 |
| Patent Number | CN200910244534.8 |
| Language | 中文 |
| Status | 公开 |
| Application Number | CN200910244534.8 |
| Patent Agent | 周长兴 |
| Document Type | 专利 |
| Identifier | http://ir.semi.ac.cn/handle/172111/22319 |
| Collection | 半导体材料科学中心 |
| Recommended Citation GB/T 7714 | 李弋洋,李成基,曾一平. 一种对半导体材料进行霍尔测试的装置. CN200910244534.8. |
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| File Name/Size | DocType | Version | Access | License | ||
| CN200910244534.8.pdf（925KB） | 限制开放 | -- | Application Full Text | |||
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