一种制备n型掺杂的立方氮化硼薄膜的方法 | |
应杰; 张兴旺![]() ![]() | |
Rights Holder | 中国科学院半导体研究所 |
Date Available | 2011-08-31 |
Country | 中国 |
Subtype | 发明 |
Abstract | 本发明公开了一种制备n型掺杂的立方氮化硼薄膜的方法,该方法包括;选用Si(001)单晶作为衬底;用B靶作为立方氮化硼薄膜沉积的溅射靶,在该B靶上覆盖有一位置可调的Si靶作为Si掺杂立方氮化硼薄膜生长的掺杂源;采用两个考夫曼宽束离子源沉积Si掺杂立方氮化硼薄膜,主离子源采用Ar+离子轰击B靶和Si靶,同时以Ar+及N2+的混合离子束作为辅助离子源轰击薄膜;对制备的Si掺杂立方氮化硼薄膜在N2保护下进行高温快速热退火。本发明提供的这种制备n型掺杂的立方氮化硼薄膜的方法,过程简单、成本低,容易精确控制掺杂元素浓度,还具有使杂质原子均匀分布在薄膜内的优点。 |
metadata_83 | 中科院半导体材料科学重点实验室 |
Patent Number | CN200910237087.3 |
Language | 中文 |
Status | 公开 |
Application Number | CN200910237087.3 |
Patent Agent | 周国城 |
Document Type | 专利 |
Identifier | http://ir.semi.ac.cn/handle/172111/22245 |
Collection | 中科院半导体材料科学重点实验室 |
Recommended Citation GB/T 7714 | 应杰,张兴旺,范亚明. 一种制备n型掺杂的立方氮化硼薄膜的方法. CN200910237087.3. |
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