SEMI OpenIR  > 集成光电子学国家重点实验室
光子晶体微腔缺陷模气体传感方法
许兴胜; 陈率; 於丰; 杜伟; 陈弘达
专利权人中国科学院半导体研究所
公开日期2011-08-30
授权国家中国
专利类型发明
摘要一种光子晶体微腔激光器进行气体折射率传感的方法,包括如下步骤:步骤1:取一光子晶体激光器,将激光器F置于恒温箱中;步骤2:搭建传感所需的光路系统,该光路系统包括:一光源,在光源的入射光路上有一偏振片、一半反半透镜及一置放有光子晶体激光器的恒温箱,在与入射光路垂直的半反半透镜的反射光路上依次置放有探测器和光谱仪;步骤3:通过光源发出的光照射在光子晶体激光器上,激发出激光经半反半透镜,由探测器收集;步骤4:光谱仪将探测器收集的激光光谱进行分析,得到激射峰数据,完成折射率的传感。
部门归属集成光电子学国家重点实验室
专利号CN201010034102.7
语种中文
专利状态公开
申请号CN201010034102.7
专利代理人汤保平
文献类型专利
条目标识符http://ir.semi.ac.cn/handle/172111/21979
专题集成光电子学国家重点实验室
推荐引用方式
GB/T 7714
许兴胜,陈率,於丰,等. 光子晶体微腔缺陷模气体传感方法. CN201010034102.7.
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