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| 基于并行处理的快速车道线检测装置 | |
| 李元金; 张万成; 吴南健 | |
| 专利权人 | 中国科学院半导体研究所 |
| 公开日期 | 2011-08-30 |
| 授权国家 | 中国 |
| 专利类型 | 发明 |
| 摘要 | 本发明公开了一种基于并行处理的快速车道线检测装置，包含一个二维的处理器单元(PE)阵列和两个精简指令集(RISC)微处理器子系统。PE阵列是一个二维的大并行系统，负责完成各种可以并行进行的车道线图像预处理任务，包括车道线图像滤波，边缘提取和增强等。两个RISC微处理器子系统对经过边缘增强后的左右车道线边缘图像并行进行车道线的检测。PE阵列和RISC处理子系统之间通过先进的高性能总线互连。车道线图像数据从PE阵列的输入端输入，经PE阵列滤波，边缘提取和增强后，输出到两个并行的RISC核子系统内，由RISC核子系统检测车道线。利用以上提到的检测系统和相应的算法，能够实现车道线的快速检测。 |
| 部门归属 | 半导体超晶格国家重点实验室 |
| 专利号 | CN201010033968.6 |
| 语种 | 中文 |
| 专利状态 | 公开 |
| 申请号 | CN201010033968.6 |
| 专利代理人 | 周国城 |
| 文献类型 | 专利 |
| 条目标识符 | http://ir.semi.ac.cn/handle/172111/21845 |
| 专题 | 半导体超晶格国家重点实验室 |
| 推荐引用方式 GB/T 7714 | 李元金,张万成,吴南健. 基于并行处理的快速车道线检测装置. CN201010033968.6. |
| 条目包含的文件 | ||||||
| 文件名称/大小 | 文献类型 | 版本类型 | 开放类型 | 使用许可 | ||
| CN201010033968.6.pdf（1136KB） | 限制开放 | -- | 请求全文 | |||
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