| 利用固定相移来测量同频信号相位差的方法; 利用固定相移来测量同频信号相位差的方法 |
| 鲁华祥; 龚国良; 边昳
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| 专利权人 | 中国科学院半导体研究所
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| 公开日期 | 2011-08-30
; 2011-08-30
; 2011-08-30
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| 授权国家 | 中国
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| 专利类型 | 发明
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| 摘要 | 一种利用固定相移来测量同频信号的相位差的方法，包括：将两个同频率的只含有齐次谐波分量的原信号，即基准信号与测量信号分别经过相同的相移，得到两个延时后的信号；将经过相同相移的两个延时后的信号与基准信号和测量信号比较幅值，在每个交点前、后引入一对正负阈值求得两个时间点，取两个时间点的中心得到交点的时间；重复步骤2，在一个半波周期内求得一个或一系列的交点时间，取最中间的交点时间近似为原信号在此半波周期内的顶点时间；根据在每个半波周期内获得的顶点时间，将基准信号与测量信号整形成为两个矩形波信号，然后将得到的两个矩形波信号做异或操作得到脉冲信号，该脉冲信号的宽度即为基准信号的顶点与测量信号的顶点的时间差；将时间差换算即为被测相位差值。 |
| 部门归属 | 半导体人工神经网络实验室
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| 专利号 | CN200910085876.X
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| 语种 | 中文
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| 专利状态 | 公开
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| 申请号 | CN200910085876.X
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| 专利代理人 | 汤保平
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| 文献类型 | 专利
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| 条目标识符 | http://ir.semi.ac.cn/handle/172111/21819
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| 专题 | 半导体人工神经网络实验室
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推荐引用方式
GB/T 7714 |
鲁华祥,龚国良,边昳. 利用固定相移来测量同频信号相位差的方法, 利用固定相移来测量同频信号相位差的方法. CN200910085876.X.
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